GTEM小室是根據(jù)IEC61000-4-3標準要求基于GTEM技術(shù)開發(fā)的射頻抗擾度預測試系統(tǒng)，全系統(tǒng)性能可靠，操作便捷，測試效果堪與暗室比擬，目前已廣泛應用于電力、通信、質(zhì)檢等領(lǐng)域，為評定小型電子設備對輻射電磁場干擾敏感性建立有力的測試依據(jù)。

　　GTEM小室，解決了目前GIS特高頻局放檢測裝置無法標定的世界性難題，并已迅速應用于廣東電網(wǎng)局放檢測裝置的入網(wǎng)檢測工作，確保了設備入網(wǎng)質(zhì)量和GIS局放測試的有效性，為保證GIS安全穩(wěn)定運行奠定了堅實的基礎(chǔ)。

　　電波暗室常使用的頻段是9kHz-40GHz，一般探頭也在這一頻段工作，在校準過程中通常采用IEEE-1309標準中規(guī)定的方法進行校準，其原理是通過功率探頭、信號發(fā)生器、GTEM小室和在微波暗室內(nèi)使用的標準增益天線等溯源至計量基準的儀器，依據(jù)天線增益與距離等參數(shù)，計算并產(chǎn)生標準電場強度，使用電場探頭在標準電場強度中測得的示值讀數(shù)與標準電場強度值進行比較得出校準因子。

　　標準電場強度生成的方式，主要分為以下兩種：

　　1、在1GHz以下頻段，通常采用標準電場強度傳遞法進行，也就是在TEM與GTEM小室中，通過設定相應標準電場強度，依據(jù)GTEM小室電場強度計算公式反向計算應饋入GTEM小室的功率，并采用迭代法調(diào)節(jié)信號源輸出信號幅度使饋入功率監(jiān)測探頭讀數(shù)逐步逼近計算值，待其讀數(shù)穩(wěn)定后，得到傳遞探頭在標準電場強度下的讀數(shù)并記錄在數(shù)據(jù)庫中，之后將傳遞探頭放置于GTEM小室中規(guī)定位置，再次采用迭代法調(diào)節(jié)信號源輸出信號幅度使傳遞探頭在GTEM小室中的電場強度讀數(shù)逼近于其在TEM與uTEM中的電場強度讀數(shù)，記錄此時饋入功率監(jiān)測探頭的讀數(shù)。

　　2、在1GHz以上頻段，使用在微波暗室內(nèi)的標準增益天線計算并產(chǎn)生標準電場強度的方法。首先設定一標準電場強度值，而后依據(jù)天線增益和其口面中心與探頭中心所形成的軸線距離等參數(shù)，反向計算天線在探頭位置處生成標準電場強度所需要的饋入功率，并采用迭代法調(diào)節(jié)信號源輸出信號幅度使饋入功率監(jiān)測探頭讀數(shù)逐步逼近計算值，待其讀數(shù)穩(wěn)定后，則在探頭位置處生成的電場強度即為標準電場強度。